QT-6000 分立器件高速测试系统

应用范围：QT-6000测试系统适用于测量中小功率三极管、场效应管、二极管等产品及晶圆，可扩展内置电容测试(DC+CAP)、TRR、EAS、LCR（超高精度电容测试）、VC、pA模块、Scanbox等，应用于FT量产测试或实验室测试。

特点：
· 高速测试，UPH>40K
· 可一拖二实现100% FT+QA并行测试
· 先进的电容高速测试方案，实现CAP+DC同工位测试
· 内置UIS测试方案，实现DC+UIS同工位测试
· LCR精准电容测试，最小测试电容值100fF

主要技术指标：

测量精度	电流：<0.5% 读值 + 0.05% 量程 + 1.5nA 电压：<0.5% 读值 + 0.05% 量程 + 1.5mV 电容：0.5% 读值 + 0.05% 量程 + 10fF
技术指标	最大电流电压30A /1200V 电容表测量范围：0.2-300pF（BIAS电压范围0-80V, 1MHz） LCR测量范围：0.1pF-0.1uF（BIAS电压范围0-30V, 1MHZ）
分辨率	16 bit ADC/DAC
波形记录	内部示波器

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